1. 溫度振動試驗
環(huán)境應(yīng)力的篩選試驗主要是在電子產(chǎn)品上施加振動及溫度循環(huán)應(yīng)力。其目的在于發(fā)現(xiàn)和排除產(chǎn)品工藝和元件引起的的早期失效，使其在出廠時便進(jìn)入隨機(jī)失效階段，以固有的可靠性水平交付用戶使用。
2. 試驗參考主要標(biāo)準(zhǔn)
GJB 1032-1990 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法。
GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗。
GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗。
3. 主要試驗設(shè)備
序號 | 設(shè)備名稱/型號 | 設(shè)備圖片 | 設(shè)備主要技術(shù)能力 |
1 |
三綜合試驗箱 |
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有效容積：1.4m3 （1150mm×1150mm×1070mm） |
2 |
三綜合試驗箱 |
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有效容積：2.6m3 |
3 | 4T數(shù)字式電動振動試驗系統(tǒng)ES-40-370+LT0808 |
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額定推力：40kN |
4 | 2T數(shù)字式電動振動試驗系統(tǒng)ES-20-320 |
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額定推力：20kN |
5 | 4T數(shù)字式電動振動試驗系統(tǒng)ES-40-370 |
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額定推力：40kN |
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